Die Intensität der von der Oberfläche emittierten Infrarotstrahlung wird vor allem durch die Materialbeschaffenheit des Prüfobjekts beeinflusst. Durch Bauteilfehler wie Lunker oder Risse wird der Wärmefluss beeinflusst. Je nach Untersuchungsmethode (Durchstrahlung oder Rückstrahlung, siehe Abbildung 2) sind Bauteilfehler an der Oberfläche als Wärmequellen oder Wärmesenken erkennbar. Diese Gegebenheit wird zu volumetrischen Fehlerdetektion herangezogen.
Technische Daten
- Temperaturbereich -40 °C bis + 1500 °C
- Thermische Empfindlichkeit 0,08 °C bei 30 °C (bei 50Hz)
- Genauigkeit ±2° C, ±2 % vom abgelesenen Messwert
- Bildwiederholfrequenz 50/60 Hz non-interlaced
- Detektor: ungekühlter Mikrobolometer mit 320 x 240 Pixel
- Spektralbereich 7,5 bis 13 µm (LWIR -Langwelliges IR)
- Einzelbild und Sequenz-Aufnahme (Echtzeit)
- Optik: Close-Up Linse 64/150
- Optik: 0,5 Weitwinkel 45° x 34° / 18 mm
- Stationär/mobil einsetzbar